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熱門關(guān)鍵詞: 恒溫恒濕箱 高低溫試驗箱 冷熱沖擊試驗箱 HAST試驗箱
扭轉(zhuǎn)監(jiān)測衰減
除非另有規(guī)定,試驗期間樣品的衰減應按GB/T18311.3—2001規(guī)定進行監(jiān)測。任何對3.6測量的器件衰減偏差將認為是由器件中的光纜/器件接口、光纖/光纖接口或光纖與光源/探測器接口引起的。
注:如果產(chǎn)生不允許的衰減變化,并且光纜自身可能有缺陷,可以采用一段光纜和兩個光纜夾持裝置以同樣的方式
進行一項確定光纜產(chǎn)生影響的控制試驗。
本文標簽: [db:關(guān)鍵詞]
備案號:蘇ICP備18026874號-1
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